معرفی دستگاه XRF

اساس کار دستگاه XRF

در دستگاه XRF یا طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس ،پرتو ایکس به نمونه مجهول تابیده و در اثر برانگیختن اتم ها باعث پدید آمدن پرتو ایکس ثانویه می شود . سپس با تعیین طول موج روش (WDS) یا انرژی پرتو ایکس ثانویه روش (EDS) ، عنصر یا عناصر مورد نظر را می توان شناسایی کرد. در آنالیز XRF درصد عناصر موجود در نمونه در بازه سدیم تا اورانیوم از 0.001 تا 99.99 درصد گزارش می شود .

در صورتیکه به آنالیز XRF نیاز دارید اینجا کلیک کنید .

آزمایشگاه XRF شرکت بیم گستر تابان آماده ارائه خدمات تخصصی XRF در کشور می باشد .