آنالیز AFM

امروزه Atomic force microscopy که به اختصار AFM (آنالیز AFM)نامیده می شود بعنوان یکی از تجهیزات محبوب در اندازه گیری پستی و بلندی سطوح (توپوگرافی) و تصویربرداری دو و سه بعدی از سطوح با قدرت تفکیک اتمی بشمار می آید.

این میکروسکوپ با استفاده از سوزنی(Probe)  متصل به تیرک (Cantilever) که در حالت ایده آل در نوک آن تنها یک اتم جای می‌گیرد، با ثبت نیروهای میان نوک سوزن و نمونه می تواند خواصی از نمونه‌های مورد آنالیز را به صورت غیر مستقیم ارائه ‌دهد، این نیروهای می‌توانند از انواع مختلف نیروهای واندروالسی، کووالانسی، الکترواستاتیکی، اصطکاکی، الکتریکی، مغناطیسی، چسبندگی، موئینگی و… باشند که بسته به وجود این نیروها و فاصله سوزن تا سطح نمونه حالت‌های بررسی به سه صورت تماسی، غیر تماسی و ضربه‌ای تقسیم‌بندی می‌شوند .

تست AFM

در آزمایشگاه بیم گستر تابان تصویربرداری پیش فرض شامل 3 پنجره اصلی 10، 5 و 1 میکرون می باشد .

تصویربرداری در بازه 10 الی 100 میکرون و همچنین زیر 1 میکرون ملزم به هماهنگی با آزمایشگاه  می باشد.
آزمایشگاه بیم گستر تابان توانایی تحلیل تصاویر بدست آمده و محاسبه پارامترهای همچون Ra و Rq   را نیز دارد.

توجه : خواهشمند است قبل از ارسال نمونه های خود به آزمایشگاه تابان ، فرم مخصوص هر آنالیز را از بخش فرم ها دانلود نمایید و پس از تکمیل آن به همراه نمونه ها به آدرس آزمایشگاه ارسال نمایید . 

مشخصات دستگاه :

نام دستگاه : میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)

کمپانی سازنده : BRUKER

مدل دستگاه : JPK NanoWizard II

کشور سازنده : آلمان

نمونه جواب :

در شکل زیر نمونه تصویر تست AFM دو بعدی و سه بعدی AFM نشان داده شده است.